Diffraction des rayons X sur poudre
Fournisseur: Bruker AXS
Principe: La géomètrie -theta/-theta de cet appareil permet l'analyse in-situ de phases solides en suspension dans un liquide (reacteur de 100 mL), ou d'un solide en équilibre avec une vapeur.
Type d'analyses effectuées: Cet appareillage est adapté au suivi in-situ de procédés de cristallisation en solution: la température du réacteur (de -30 à 70 °C) et l'ajout de solutions sont contrôlés durant le procédé et le système analyse la nature de la phase solide en suspension ce qui permet par exemple de déterminer des températures de transition de phase ou de peritexie (solvatation, desolvatation). La détection de solvates efflorescents devient ainsi un travail de routine.
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Publications marquantes:
Fournisseur: Bruker AXS
Principe: Analyse par diffraction des rayons X en reflexion de poudres cristallines (géomètrie theta/theta). La rotation du porte échantillon permet de minimiser les effets de texture et d'orientation préferentielle.
Fournisseur: Bruker AXS
Principe: Analyse par diffraction des rayons X en reflexion de poudres cristallines (géomètrie theta/theta). Le porte échantillon est régulé en température grâce à une chambre TTK 450 Anton Paar couplée à un refroidissement à l'azote liquide (de -150°C à 250 °C).
Type d'analyses effectuées: Cet appareillage permet le suivi en température des comportements structuraux de matériaux cristallins et permet par exemple la détection de température de transition de phase (solide-solide, désolvatation). Son utilisation permet également d'obtenir de précieuses informations pour la construction de diagrammes de phase.
Publications marquantes:
Fournisseur: INEL
Principe: Analyse par diffraction des rayons X en reflexion de poudres cristallines (géomètrie theta/theta). Le détecteur possède une géomètrie courbe.
Type d'analyses effectuées: Cet appareillage permet l'analyse de routine de poudre cristalline. La géomértrie courbe du détecteur permet de détecter instantanément les rayons diffractés par l'échantillon sur toute la gamme angulaire ciblée. L'appareil est également munit d'un passeur d'échantillons.
Diffraction des rayons X sur monocristal
Fournisseur: Bruker
Principe: Analyse par diffraction des rayons X de monocristaux pour établissement de structures cristallines.
- Équipements de deux Micro-sources de dernières générations à refroidissement à air, permettant de limiter l’impact écologique de l’équipement.
- Une micro-source au cuivre « IμS 3.0 » de dernière génération et une micro-source au Molybdène « IμS diamond TM». La possibilité d’utiliser l’un ou l’autre de ces deux rayonnements permet la détermination de la configuration absolue en s’affranchissant des limitations telles que la nécessité de présence d’un atome « lourd » au Z élevé, ou d’un centre de chiralité connue au sein de la molécule analysée.
- Goniomètre 4 cercles avec platine Kappa et piste Motorisée pour Détecteur avec Encodeur Optique.
Publications marquantes: